LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析仪

概况

美国贝克曼库尔特有限公司 (Beckman Coulter, Inc.) 是目前世界实验医学领域中仪器设备、试剂、应用软件开发和制造最强的厂商之一。在过去的一百年里，“贝克曼”、“库尔特”卓越品牌的各种仪器已被世界各地医务人员和科研工作者所普遍认可和接受。其技术支持和售后服务网络遍及全球 130 多个国家，贝克曼库尔特目前在全球范围内的实验室中拥有大约 275,000 套主要的仪器系统，操作系统售后服务，生化试剂盒以及服务合同等代表了大约总收入的 64％。

贝克曼库尔特公司新一代 LS 13 320 XR 将激光衍射粒度分析提升到一个更高的水平，其增强的 PIDS 检测技术（发明 专利：4953978、5104221）可提供更高的分辨率和更准确、可重复的结果。 您可以测量更广泛的颗粒并更快、更可 靠地检测样品中的细微差异。 具有直观界面的新软件只需点击几下即可提供您需要的数据。

• 液体分散和干粉样品的粒度表征
• 宽动态测量范围：10 nm - 3,500 μm
• 获得专利的 PIDS 技术：直接检测纳米粒子群
• 主光束衍射技术提供从 400 nm 到 3,500 μm 的粒径范围

性能优势

• 超高分辨率：无论单峰、双峰还是多峰，不论纳米、微米还是微纳米，均可实现高分辨率的检测
• 宽测量范围为 10 nm – 3,500 μm 
• 自动合格/不合格管理，以加快质量控制增强型软件，可简化标准化测量的方法创建
• 新的控制标准，可充分验证仪器/模块的性能

PIDS 专利技术：偏振光强度差散射 - 真正实现纳米颗粒测量

传统方法测量亚微米颗粒依靠背散射光，其散射光强谱图在形状和强度上都非常相似，区分比较困难，因此由于分辨率低而造成不准确的粒度测量。 亚微米颗粒在水平和垂直偏振光下可形成差异的散射谱图，而这些差异便是亚微米颗粒识别的重要信息。 PIDS 技术采用了 3 种不同波长的光顺次照射样品，首先为垂直偏振，然后为水平偏振，通过分析每个波长的水平和垂直辐射光之间的差异，便可获得亚微米样品准确的粒度分布信息。

X-D 阵列检测器 - 确保微米颗粒高分辨率的准确测量

• 特殊设计 X 型对数排布检测器阵列，可以准确记录散射光强信号，获得真实准确的粒度分布
• 132 枚检测器能够清晰区分不同粒度等级间散射光强谱图差异，快速、准确的提供真实粒度分布
• 优化的检测器信噪比，大大提高了检测到散射光强谱图细微变化的能力
• 亚微米检测区域，应用 6 枚检测器对三种不同波长的光在垂直和水平偏振方向上 进行 36 个单独检测，提供纳米级颗粒优异的准确性和高分辨率

简单直观的操作软件

• 检测方法一旦在软件中设定，仅需点击2次便可测量

• 使用导航轮，显示和导出数据仅需点击1次

• 包含集成的光学常数数据库

• 仪器配备有自诊断功能，随时向您通报有用的用户诊断报告

• 精简的工作流不仅易于使用，更节省时间

• 软件直接对测量结果标注绿色或红色， 提示其是否符合所需规格。因此，无论操作人员经验如何，均可通过该功能迅速了解样品质量情况

数据完整性及合规性

FDA 的《电子记录和电子签名规则》（21 CFR 第 11 部分）规定了提交电子文件的要求。选择软件的最高安全等级，系统将自动调节以下配置，以符合该法规要求：

• 电子签名
• 用户安全登录
• 用户权限
• 审查跟踪
• 错误日志报告
• 管理配置工具

LS 13 320 XR 模块和配件